International Conference on Defects in Semiconductor (ICDS27) 投稿者: hsintani | 2013年8月5日 0件のコメント 2013年7月21日から26日にかけてイタリアのボローニャにて開催されましたInternational Conference on Defects in Semiconductor (ICDS27)に専攻科2年の合田稜平君が参加しました。参加者のほとんどはヨーロッパの研究者でしたが、多くの参加者と討議しました。