International Conference on Defects in Semiconductor (ICDS27)

２０１３年７月２１日から２６日にかけてイタリアのボローニャにて開催されましたInternational Conference on Defects in Semiconductor (ICDS27)に専攻科２年の合田稜平君が参加しました。参加者のほとんどはヨーロッパの研究者でしたが、多くの参加者と討議しました。