14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors

平成23年9月25日から29日まで、宮崎観光ホテル（宮崎市）で開催された
国際会議（14th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors）にて、
高倉・角田研究室の専攻科生３名（工藤淳、高原基、田中龍之）が発表を行いました。