下田 道成

• 平成21年度
  • 3年 電気磁気学
  • 4年 電気回路学
  • 4年 電子工学演習Ⅰ
  • 4年 電子工学演習Ⅲ
  • 4年 電子工学実験
  • 5年 卒業研究
  • 専攻科1年 応用電磁気学
  • 専攻科1年 応用物理科学

• 電磁波による物体の計測技術に関する研究

物体に電磁波（光）照射し、反射・透過・散乱する電磁波の計測を通して得られる情報から物体の表面インピーダンスを推定し、表面形状及び浅い層での内部構造を計測する技術の開発を行っています。

工場等で生産される器材・機具・機械等の機器製品においては、製造過程で発生する、不純物や空洞の混入、ひび割れ、切り傷等の損傷により品質が低下することが考えられます。表面インピーダンスを利用した計測技術は製品の形状計測、浅い層での不純物混入や損傷の検査など非破壊検査に応用できます。